美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀

新的 CHDF 3000 提供：

1】高分辨率粒度分布（PSD）測(cè)量 的新的技術(shù)，包括顆粒檢測(cè)高靈 敏度、動(dòng)態(tài)范圍和納米顆粒優(yōu)化分析。

2】粒子分餾的真的 PSD 數(shù)據(jù)。無需對(duì)粒徑分布的形狀進(jìn)行假設(shè)。

3】精確非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—歸功于其與顆粒密度無關(guān)的分析。

4】自動(dòng)/無人操作。所有組件都在一個(gè)簡(jiǎn)易單一窗口界面控制和操作。

美國MAS

應(yīng)用科學(xué)公司的新 CHDF3000 系統(tǒng)，在高分辨率粒度分布（PSD）分析方面有*新的進(jìn)展。

CHDF3000 使用毛細(xì)管流體動(dòng)力分餾（CHDF）技術(shù)按大小分離顆粒。架構(gòu)于光散射儀器、主

要提供平均粒徑數(shù)據(jù)—任何平均粒徑都可由無限多的 PSD 產(chǎn)生（見下文）。相反，

CHDF3000在 5 納米到 3 微米范圍內(nèi)提供完整、真實(shí)、詳細(xì)的 PSD 數(shù)據(jù)。接下來將介紹

CHDF3000 的一些優(yōu)勢(shì)亮點(diǎn)。

美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀

優(yōu)勢(shì)：

• 毛細(xì)流體動(dòng)力分餾：詳細(xì) PSD 數(shù)據(jù)、廣泛多樣 PSD 準(zhǔn)確報(bào)告
• 寬動(dòng)態(tài)范圍檢測(cè)：在主要粒子群中，對(duì)次要粒子群進(jìn)行大動(dòng)態(tài)范圍檢測(cè)
• 可靠性高的和簡(jiǎn)易操作：質(zhì)量控制/研發(fā)/在線使用
• v全面的粒度分布數(shù)據(jù)報(bào)告
• v連續(xù)監(jiān)測(cè)/控制所有測(cè)量數(shù)據(jù)：與泵、紫外線檢測(cè)器和自動(dòng)采樣器串聯(lián)
• v占地面積小
• v其他

1. 自動(dòng)取樣器/無人值守分析
2. 樣品量： 10%的高分辨率能力
3. 適用于非均勻成分樣品、獨(dú)立顆粒密度
4. 樣品量： < 1 ml (v)
5. 10 分鐘