超聲電聲法Zeta電位儀是納米材料的一種重要表征參數(shù)?，F(xiàn)代儀器可以通過(guò)簡(jiǎn)便的手段快速準(zhǔn)確地測(cè)得。大致原理為：通過(guò)電化學(xué)原理將Zeta電位的測(cè)量轉(zhuǎn)化成帶電粒子淌度的測(cè)量，而粒子淌度的測(cè)量測(cè)是通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射，運(yùn)用波的多普勒效應(yīng)測(cè)得。粒子表面存在的凈電荷影響粒子界面周圍區(qū)域的離子分布，導(dǎo)致接近表面抗衡離子（與粒子電荷相反的離子）濃度增加。

 

　　于是，每個(gè)粒子周圍均存在雙電層。圍繞粒子的液體層存在兩部分：一是內(nèi)層區(qū)，稱為Stern層，其中離子與粒子緊緊地結(jié)合在一起；另一個(gè)是外層分散區(qū)，其中離子不那么緊密的與粒子相吸附。在分散層內(nèi)，有一個(gè)抽象邊界，在邊界內(nèi)的離子和粒子形成穩(wěn)定實(shí)體。當(dāng)粒子運(yùn)動(dòng)時(shí)（如由于重力），在此邊界內(nèi)的離子隨著粒子運(yùn)動(dòng)，但此邊界外的離子不隨著粒子運(yùn)動(dòng)。這個(gè)邊界稱為流體力學(xué)剪切層或滑動(dòng)面（slippingplane）。在這個(gè)邊界上存在的電位即稱為Zeta電位。

 

　　超聲電聲法Zeta電位儀的粒度測(cè)量方法：

　　（1）晶粒：指單晶顆粒，即顆粒內(nèi)為單相，無(wú)晶界。

　?。?）一次顆粒：指含有低孔隙率的一種獨(dú)立的粒子。它能被電子顯微鏡觀察到。

　　（3）團(tuán)聚體：是由一次顆粒為降低表面勢(shì)能而通過(guò)范德華力或固定的橋鍵作用形成的更大顆粒。團(tuán)聚體內(nèi)含有相互連接的孔隙網(wǎng)絡(luò)，它能被電子顯微鏡觀察到。

　　（4）二次顆粒：指人為制造的粉料團(tuán)聚粒子。如陶瓷工藝中的“造粒”。目前所謂“納米材料”的功能絕大多數(shù)體現(xiàn)為團(tuán)聚體的功能，若能將團(tuán)聚體分散成一次顆粒，則將表現(xiàn)出納米顆粒更多的特性。